Herkömmliche Testmethoden wie In-Circuit-Test (ICT) und Flying Probe Test (FPT) stossen bei innovativen Bauformen wie Ball Grid Arrays (BGA) und Chip Scale Packages (CSP) an ihre Grenzen.
Die dichte Integration und winzige Bauformen erschweren das Kontaktieren mit herkömmlichen Nadeln und können die Signalqualität beeinträchtigen, was Entwickler vor neue Herausforderungen stellt, besonders in frühen Designphasen.
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Wie funktioniert Boundary Scan und was ist eigentlich JTAG?
JTAG/Boundary Scan oder der Standard IEEE 1149.1 ist in der Elektronik ein bedeutender Prüfstandard, der die Qualität und Zuverlässigkeit moderner Baugruppen sichert. Er ermöglicht eine effiziente Verifikation von Boardverbindungen, indem Signale wie im In-Circuit-Test (ICT) gezielt überprüft werden.
Die Lösungen von GOEPEL electronic nutzen JTAG für Test, Debugging, Programmierung und Emulation ohne physischen Zugriff. Die Boundary-Scan-Technologie liest über eine serielle Schiebekette Signale der Komponenten aus und prüft somit die Baugruppe umfassend und präzise.
Boundary Scan Baustein
Prozessoren, FPGAs und andere hochentwickelte Chips verfügen oftmals über einen JTAG-TAP, den Test Access Port. Über diesen erreicht man einzelne Baugruppen zwecks Konfiguration, Kommunikation und Debugging. Im Standard selbst ist der Aufbau eines JTAG-fähigen Bausteins dargelegt, wie auch die Beschreibungssprache, die „Boundary Scan Description Language (BSDL)“. Sie legt die für jeden Baustein einzigartige Boundary Scan Ressourcen offen.
Boundary Scan Zelle
Die Boundary-Scan-Zelle ist das zentrale Element im Boundary-Scan-Testverfahren. Sie ermöglicht es, Pins eines Bauteils unabhängig von der normalen Funktion zu steuern und Signale zu prüfen. Die Zelle sitzt zwischen der Kernlogik und der Peripherie des Bausteins und fungiert wie eine „elektronische Prüfnadel“ im In-Circuit-Test. So können Techniker direkt an den Bauteil-Pins prüfen und gezielt auf mögliche Fehlerquellen zugreifen, ohne physischen Zugriff auf den Pin oder das Netz Das JTAG Hardwarekonzept von Göpel electronic
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