FAQ

Ein In-Circuit-Test (ICT) prüft die elektrischen Eigenschaften einer Leiterplatte. Dabei werden Bauteile, Verbindungen, Widerstände, Kapazitäten und Kurzschlüsse direkt auf der Baugruppe gemessen. ICT eignet sich besonders für hohe Stückzahlen und ermöglicht eine sehr hohe Fehlerabdeckung.

Ein In-Circuit-Test (ICT) lohnt sich vor allem bei mittleren bis hohen Produktionsmengen. Durch den Einsatz eines Prüfadapters können Tests schnell, reproduzierbar und mit hoher Abdeckung durchgeführt werden. Die Investition in den Adapter amortisiert sich in der Regel über grössere Stückzahlen.

Beide Verfahren haben ihre Stärken:

Die optimale Lösung hängt von Stückzahl, Produktkomplexität und Qualitätsanforderungen ab.

Flying Probe eignet sich besonders für Prototypen, Kleinserien und Produkte mit häufigen Layoutänderungen. Da kein Prüfadapter benötigt wird, können Entwicklungszeit und Investitionskosten reduziert werden. Für hohe Stückzahlen ist ein ICT aufgrund der kürzeren Prüfzeiten jedoch häufig die wirtschaftlichere Lösung.

AOI steht für Automated Optical Inspection. Dabei werden Leiterplatten und Baugruppen mit Kamerasystemen automatisch auf Bestückungsfehler, fehlende Bauteile, Polaritätsfehler oder Lötfehler geprüft.

AXI steht für Automated X-Ray Inspection. Im Gegensatz zur optischen Inspektion können mit Röntgentechnologie auch verdeckte Lötstellen und innere Strukturen geprüft werden, beispielsweise bei BGAs oder Leistungselektronik.

AOI (Automated Optical Inspection) und AXI (Automated X-Ray Inspection) verfolgen unterschiedliche Ziele und ergänzen sich oft gegenseitig. AOI eignet sich zur Erkennung sichtbarer Fehler wie fehlender Bauteile, Polaritätsfehler oder mangelhafter Lötstellen. AXI ermöglicht zusätzlich die Prüfung verdeckter Strukturen und innerer Lötverbindungen, beispielsweise bei BGA-Bauteilen oder komplexen Leistungselektroniken. Die optimale Lösung hängt vom Produkt und den Qualitätsanforderungen ab.

Boundary Scan ist ein standardisiertes Testverfahren für elektronische Baugruppen. Über eine JTAG-Schnittstelle können Verbindungen, Bauteile und digitale Signale geprüft werden, ohne dass physischer Zugang zu allen Messpunkten erforderlich ist.

Ein Funktionstest prüft, ob ein Produkt unter realen Einsatzbedingungen korrekt funktioniert. Dabei können Ein- und Ausgänge, Kommunikationsschnittstellen, Sensoren, Aktoren und Betriebsabläufe getestet.

Ein In-Circuit-Test (ICT) prüft die elektrischen Eigenschaften einzelner Komponenten und Verbindungen auf einer Leiterplatte. Ein Funktionstest überprüft hingegen, ob das fertige Produkt unter realen Betriebsbedingungen wie vorgesehen funktioniert. Beide Verfahren ergänzen sich und werden häufig kombiniert, um eine möglichst hohe Testabdeckung zu erreichen.

Automatisierte Testsysteme:

• reduzieren Testzeiten
• steigern die Produktivität
• erhöhen die Prozesssicherheit
• liefern reproduzierbare Ergebnisse
• reduzieren menschliche Fehler
• verbessern die Rückverfolgbarkeit

Ein Projekt beginnt typischerweise mit Analyse und Beratung. Anschliessend folgen Konzeption, Engineering, Realisierung, Inbetriebnahme, Schulung und Übergabe. Nach Projektabschluss übernehmen wir auf Wunsch die Wartung und begleiten die spätere Weiterentwicklung.

Ja. Wir unterstützen Sie bei der Analyse bestehender Testsysteme und identifizieren Potenziale für Erweiterungen, Modernisierungen und Retrofit-Massnahmen.

LabVIEW ist eine grafische Programmierumgebung von National Instruments (NI), die speziell für die Mess-, Steuer-, Regel- und Automatisierungstechnik entwickelt wurde. Sie wird weltweit für Test- und Messanwendungen eingesetzt.

NI TestStand ist eine standardisierte Testmanagement-Software des Herstellers National Instruments (NI), die zur automatisierten Validierung und Prüfung von Produkten in der Fertigung und Entwicklung eingesetzt wird. Sie ermöglicht standardisierte, dokumentierte und skalierbare Testprozesse.

Ja. Über die Kubes Academy werden Schulungen zu LabVIEW und TestStand angeboten. Die Kubes Academy richtet sich an Entwickler, Ingenieure und Unternehmen, die ihre Kompetenzen im Bereich Test- und Automatisierungstechnik ausbauen möchten.

Unsere Kunden sind so vielfältig wie die Testsysteme, die wir entwickeln. In unterschiedlichsten Branchen und über den gesamten Produktlebenszyklus hinweg konnten wir unsere Kompetenz und Erfahrung erfolgreich unter Beweis stellen.

Die optimale Teststrategie hängt von verschiedenen Faktoren ab, darunter Produktkomplexität, Produktionsmenge, Qualitätsanforderungen und Budget. In vielen Fällen führt die Kombination mehrerer Prüfverfahren zum besten Ergebnis. Wir unterstützen Sie gerne bei der Auswahl und Auslegung einer wirtschaftlichen und zukunftssicheren Teststrategie.

Wir vereinen Kompetenzen in Teststrategie, Softwareentwicklung, Messtechnik, Automatisierung und Produktion. Zusätzlich verfügen wir über langjährige Erfahrung im Bereich automatisierter Testsysteme sowie umfassendes Know-how in LabVIEW, TestStand, der industriellen Qualitätssicherung und der Fertigung.

Eine erfolgreiche Teststrategie berücksichtigt das Produkt, die Fertigungsprozesse, die Qualitätsanforderungen und die geplanten Stückzahlen. Kubes analysiert diese Rahmenbedingungen und kombiniert bei Bedarf verschiedene Prüfverfahren wie ICT, Flying Probe, AOI, AXI, Boundary Scan und Funktionstest. So entsteht eine wirtschaftliche und langfristig tragfähige Lösung für eine zuverlässige Qualitätssicherung.

Die Kosten eines automatisierten Testsystems hängen von der Komplexität des Produkts, den Qualitätsanforderungen, der gewünschten Testabdeckung und dem Automatisierungsgrad ab. Da jedes Projekt individuelle Anforderungen mitbringt, wird jedes System spezifisch konzipiert. Gerne analysieren wir Ihre Anforderungen und erstellen ein passendes Angebot.