In-Circuit-Test (ICT)

In-Circuit-Test (ICT)

Der In-Circuit Test (ICT) ist eines der etabliertesten Verfahren zur elektrischen Prüfung elektronischer Baugruppen. Über einen speziell auf die Baugruppe abgestimmten Prüfadapter werden zahlreiche Testpunkte gleichzeitig kontaktiert, um einzelne Bauteile, elektrische Verbindungen und Netzwerke schnell und präzise zu prüfen.

Durch Messungen von Widerständen, Kapazitäten, Dioden, Transistoren und integrierten Schaltungen lassen sich Fertigungsfehler bereits frühzeitig erkennen. Typische Fehlerbilder wie Kurzschlüsse, Unterbrechungen, falsche Bauteilwerte, Bestückungsfehler oder Lötmängel können zuverlässig identifiziert und lokalisiert werden.

Dank der hohen Testabdeckung, kurzen Prüfzeiten und reproduzierbaren Ergebnisse ist ICT die bevorzugte Testmethode für die Serienfertigung elektronischer Baugruppen. In Kombination mit zusätzlichen Funktionen wie Boundary Scan, Flash-Programmierung oder Funktionsprüfungen entsteht eine leistungsfähige Testplattform zur Sicherstellung höchster Produktqualität und Prozesssicherheit.

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IHRE VORTEILE

  • Hohe Testabdeckung durch die Prüfung einzelner Bauteile, Verbindungen und Netzwerke
  • Schnelle und reproduzierbare Fehlererkennung direkt in der Fertigung
  • Zuverlässige Diagnose von Kurzschlüssen, Unterbrechungen, Bestückungs- und Lötfehlern
  • Hoher Durchsatz und kurze Prüfzeiten für Serienfertigungen
  • Kombinierbar mit Boundary Scan, Programmierung und Funktionstest

TYPISCHE ANWENDUNG

  • In-Circuit-Test komplexer Analog-, Digital- und Mixed-Signal-Baugruppen
  • Strukturtest von bestückten Leiterplatten mittels Nadelbettadapter
  • Produktionstest von Automotive-, Industrie- und Medizinelektronik
  • Kombination aus ICT, Boundary Scan, Flash-Programmierung und Funktionstest

Auf Ihre Produkte abgestimmt

Bestehende TestsYsteme aufrüsten

Integration in neue Testsysteme

Aufbau individueller Testsysteme

Definition

Wie funktioniert ein In-Circuit-Test?

Der ICT kontaktiert die Baugruppe über ein sogenanntes Nadelbett. Über diese Prüfpunkte können einzelne Netze, Bauteile und Schaltungsteile gezielt angesteuert und vermessen werden.

Im Gegensatz zum Funktionstest wird nicht nur das Gesamtsystem betrachtet, sondern jedes relevante Bauteil und jede Verbindung einzeln überprüft. Dadurch werden Fehler bereits auf Komponentenebene erkannt.

In-Circuit-Test (ICT)

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