Elektrotechnische Tests

Effizient Testen mit Jtag-Schnittstellen

Die JTAG-Schnittstelle eröffnet effiziente Möglichkeiten zum Testen und Programmieren von Embedded-Systemen, die sich für moderne Elektronikbaugruppen mit hoher Komplexität und geringem physischen Zugang eignen.

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Herkömmliche Testmethoden wie In-Circuit-Test (ICT) und Flying Probe Test (FPT) stoßen bei innovativen Bauformen wie Ball Grid Arrays (BGA) und Chip Scale Packages (CSP) an ihre Grenzen.

Die dichte Integration und winzige Bauformen erschweren das Kontaktieren mit herkömmlichen Nadeln und können die Signalqualität beeinträchtigen, was Entwickler vor neue Herausforderungen stellt, besonders in frühen Designphasen.

Auf Ihre Produkte abgestimmt

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Integration in neue Testsysteme

Aufbau individueller Testsysteme

Definition

Wie funktioniert Boundary Scan und was ist eigentlich JTAG?

JTAG/Boundary Scan oder der Standard IEEE 1149.1 ist in der Elektronik ein bedeutender Prüfstandard, der die Qualität und Zuverlässigkeit moderner Baugruppen sichert. Er ermöglicht eine effiziente Verifikation von Boardverbindungen, indem Signale wie im In-Circuit-Test (ICT) gezielt überprüft werden.

Die Lösungen von GOEPEL electronic nutzen JTAG für Test, Debugging, Programmierung und Emulation ohne physischen Zugriff. Die Boundary-Scan-Technologie liest über eine serielle Schiebekette Signale der Komponenten aus und prüft somit die Baugruppe umfassend und präzise.

Boundary Scan Baustein

Prozessoren, FPGAs und andere hochentwickelte Chips verfügen oftmals über einen JTAG-TAP, den Test Access Port. Über diesen erreicht man einzelne Baugruppen zwecks Konfiguration, Kommunikation und Debugging. Im Standard selbst ist der Aufbau eines JTAG-fähigen Bausteins dargelegt, wie auch die Beschreibungssprache, die „Boundary Scan Description Language (BSDL)“. Sie legt die für jeden Baustein einzigartige Boundary Scan Ressourcen offen.

Boundary Scan Zelle

Die Boundary-Scan-Zelle ist das zentrale Element im Boundary-Scan-Testverfahren. Sie ermöglicht es, Pins eines Bauteils unabhängig von der normalen Funktion zu steuern und Signale zu prüfen. Die Zelle sitzt zwischen der Kernlogik und der Peripherie des Bausteins und fungiert wie eine „elektronische Prüfnadel“ im In-Circuit-Test. So können Techniker direkt an den Bauteil-Pins prüfen und gezielt auf mögliche Fehlerquellen zugreifen, ohne physischen Zugriff auf den Pin oder das Netz Das JTAG Hardwarekonzept von Göpel electronic

Embeded Jtag Solutions

Eine Auswahl an Hardwareprodukten

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Elektronische Prüfungen

Anwendungsbeispiele

Individuelle Anlagen

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Unsere Hardware-Entwickler sind qualifiziert und erfahren genug Komponenten zu entwickeln, die nicht auf dem Markt verfügbar sind. Oder wir entwickeln eigene Komponenten um Kosten im System zu senken oder Ihren speziellen Anforderungen besser gerecht werden zu können.

Anlagen nach Lastenheft

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Entwicklungsprojekte

Gerne unterstützen wir Sie als erfahrener Partner auch bei der Entwicklung von neuen Lösungen. Die Umsetzung erfolgt in enger Abstimmung mit Ihnen und wird in vier Schritten abgewickelt

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