Der In-Circuit Test (ICT) ist eines der etabliertesten Verfahren zur elektrischen Prüfung elektronischer Baugruppen. Über einen speziell auf die Baugruppe abgestimmten Prüfadapter werden zahlreiche Testpunkte gleichzeitig kontaktiert, um einzelne Bauteile, elektrische Verbindungen und Netzwerke schnell und präzise zu prüfen.
Durch Messungen von Widerständen, Kapazitäten, Dioden, Transistoren und integrierten Schaltungen lassen sich Fertigungsfehler bereits frühzeitig erkennen. Typische Fehlerbilder wie Kurzschlüsse, Unterbrechungen, falsche Bauteilwerte, Bestückungsfehler oder Lötmängel können zuverlässig identifiziert und lokalisiert werden.
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